一种数据容量的测试方法及系统

本发明提供了一种数据容量的测试方法及系统，运用于数据测试领域；本发明对于相同外观的芯片，采用X射线透视获取其内部结构的图像，可以揭示芯片的内部构造和材料分布情况，有助于识别不同芯片的容量特征，便于进行后续的容量测试和质量评估，同时基于所获取的内部结构信息，可以生成芯片的容量数据，进行预设的容量测试，即通过容量测试结果，可以判断芯片是否符合预设的入库条件，从而实现对芯片容量的准确评估和筛选。