一种基于高光谱特征挑选的原棉杂质含量反演方法

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一种基于高光谱特征挑选的原棉杂质含量反演方法
申请号:CN202410745428
申请日期:2024-06-11
公开号:CN118746559A
公开日期:2024-10-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于高光谱特征挑选的原棉杂质含量反演方法,属于杂质检测技术领域,该反演方法具体步骤如下:S1、收集多组原棉棉包试样并进行杂质含量标定;S2、采集备用试样的高光谱数据并进行预处理;S3、分析高光谱特征并选择波段;S4、构建基于高光谱数据的深度学习神经网络;S5、通过神经网络分析未知高光谱数据以获取原棉杂质含量;本发明通过采集大量不同杂质含量棉包的高光谱图像,分析不同杂质含量下的高光谱图像特征,利用模型训练的方法,获得原棉杂质含量反演模型。可对待测试样进行高效快速的大批量检测。
技术关键词
反演方法 深度学习神经网络 高光谱成像系统 杂质检测技术 黑白板 数据 代表 反射率 矫正 误差统计 短波红外 多层感知机 神经网络模型 反演模型 相机镜头 图像 天平 黑板 测试样
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