一种集成电路参数分阶段测试方法及系统

本发明公开了一种集成电路参数分阶段测试方法及系统，方法包括：采用参数选择方法A和参数选择方法B进行参数项选择并且取并集，该并集采用smote算法进行处理，得到最终的数据集；利用数据集对xgboost机器学习模型进行训练；第一阶段测试用参数选择方法A提取参数项，输入一个训练好的xgboost机器学习模型，预测结果为合格的芯片测试结束，第二阶段测试针对第一阶段测试结果为不合格的芯片，用参数选择方法B提取芯片的参数项并输入到另外一个训练好的xgboost机器学习模型；第三阶段测试将第二阶段测试结果为不合格的芯片送入ATE设备进行测试；本发明的优点在于：测试效率高，准确性高且成本低。