一种大型全尺寸原型目标远场RCS的测量方法及介质

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一种大型全尺寸原型目标远场RCS的测量方法及介质
申请号:CN202410749256
申请日期:2024-06-12
公开号:CN118330329B
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种大型全尺寸原型目标远场RCS的测量方法及介质,涉及远场RCS的测试技术,方法包括:搭建缩比模型;获取大型全尺寸原型目标的物理尺寸、模拟频率和测试频率,确定缩比模型的物理尺寸以及缩比因子;搭建近场测试环境,确定定标体和缩比模型的近场数据;在模拟频率下测量大型全尺寸原型目标,得到目标反射系数;在测试频率下测量缩比模型,得到模型反射系数;处理近场数据,确定定标前定标体和缩比模型的远场数据;通过定标前缩比模型和定标体的远场数据,确定定标后缩比模型的远场数据;通过定标后缩比模型的远场数据、缩比因子和反射系数,确定大型全尺寸原型目标的远场数据。在近场环境下测试,降低了在场地上的难度。
技术关键词
缩比模型 原型 雷达天线 测量方法 尺寸 数据 定标常数 频率 计算机程序指令 因子 物理 平板 可读存储介质 半轴 波长 处理器
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