DDR芯片测试中的DFI接口信号检测方法、装置及存储介质

本发明公开了一种DDR芯片测试中的DFI接口信号检测方法、装置及存储介质，涉及信号检测技术领域。该方法包括：获取DDR芯片测试过程中内存控制器的DFI接口输出的DFI接口信号序列并解析出命令；对DFI接口信号序列中的控制命令之间的时间间隔和顺序进行检测；对DFI接口信号序列中的控制命令和数据的波形进行检测；基于DFI接口信号序列中的控制命令之间的时间间隔、DFI接口信号序列中的控制命令之间的顺序、DFI接口信号序列中控制命令的波形以及DFI接口信号序列中数据的波形，确定出DDR芯片测试中的信号序列是否输出异常。本发明公开的方法、装置及存储介质能够准确检测出用于测试的信号序列是否错误，确保测试结果的准确性。