一种芯片硅后验证测试方法、装置及设备

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片硅后验证测试方法、装置及设备。方法用于验证测试系统中的计算机设备；验证测试系统中还包括待测试芯片以及多通道选择设备；待测试芯片上的各个总线与多通道选择设备的各个通道一一对应连接；方法包括：针对待测试芯片内多条总线中的任一目标总线，向多通道选择设备发送与目标总线对应的目标选通指令；目标选通指令用于控制与目标总线对应的通道选通，其余通道关断；接收多通道选择设备的输出信号；根据输出信号，获取目标总线的测试结果。本发明能够提高芯片硅后验证的测试效率。