一种多芯片同时测试装置

本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种多芯片同时测试装置，机架上设置有用于将载有芯片的料盘送入到测试装置下方的料盘输送线；测试装置包括有LENS固定板、与料盘配对使用的产品测试治具和均布在LENS固定板上的多个LENS镜头；LENS固定板上方设置有固定在机架上的光源。在使用本发明时，该结构能够使得芯片批量自动上料和自动检测，降低劳动强度，提高检测效率，降低芯片检测时上下料被划伤的风险。