一种熔点仪及熔点测量方法

本发明公开了一种熔点仪及熔点测量方法，其中熔点仪，包括控制芯片MCU、加热平台、光敏传感器、温度传感器和LED光源，所述控制芯片MCU与加热平台电连接，所述LED光源设置在加热平台下方，所述光敏传感器设置在加热平台上方，所述光敏传感器采集加热平台的透光量，并发送给控制芯片MCU，所述温度传感器采集加热平台的温度数据，并发送给控制芯片MCU，所述控制芯片MCU根据透光量变化确定待测样品的熔点。本发明通过光敏传感器采集光线的强度，在待测样品开始融化时，能够准确的判断出光线的细微变化，从而使得熔点的判断更加准确，免去去了CCD摄像机和电脑的采购，极大的降低了成本。