一种卫星高压电子组件寿命模型获取方法

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一种卫星高压电子组件寿命模型获取方法
申请号:CN202410763221
申请日期:2024-06-13
公开号:CN118818173B
公开日期:2025-12-19
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种卫星高压电子组件寿命模型计算方法,该方法能够获得卫星高压电子组件的绝缘性能寿命。该方法具体过程为:设定实验条件:在真空和温度恒定条件下进行不同电应力下的高加速寿命试验,并确定每一施加的工作电压所对应的试验时间;试验试样制备:试样按照模拟实际绝缘结构制作,在试验前进行高温烘干;试验方案:包括冷热交变循环试验、电加速老化试验及非破坏性性能参量检测;模型拟合:基于非破坏性性能参量检测所获得的性能参数,拟合耐受电压倍数与寿命之间的关系曲线,获得拟合系数,基于所述拟合系数获得卫星高压电子组件寿命模型。
技术关键词
加速老化试验 模型计算方法 电子组件 寿命 温度恒定 高压 模型获取方法 绝缘结构 电压 真空 曲线 试验箱 关系 应力 周期 空气 参数 压力
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