一种量子比特表征筛选方法、系统、存储介质和计算设备

本发明公开了一种量子比特表征筛选方法、系统、存储介质和计算设备，包括同时测量多个量子比特的读取信号，得到谐振腔的频率，通过测量谐振腔的频率是否偏移判断量子比特是否失效并进行标记，测量谐振腔的输出信号随磁通变化的数据，得到振荡周期和甜点的位置，输出结果数据；对激发谱的数据进行拟合，通过数学模型计算量子比特的退相干时间；并与阈值对比，若低于阈值，则将量子比特标记为失效并屏蔽，若高于阈值，则将量子比特标记为有效并输出标定参数；该方法提高单个量子比特的表征标定速度，并且可以同时对多个量子比特操作，大幅减少总体表征筛选的时间。