芯片引脚检测装置及方法

本发明公开了一种芯片引脚检测装置及方法，属于芯片检测技术领域，该芯片引脚检测装置，包括恒流源选择模块，用于向待测的目标芯片的引脚提供恒流源；引脚选择模块，用于切换目标芯片的引脚电气连接状态，使目标芯片的引脚接恒流源正极、恒流源负极或者悬空，引脚选择模块具有多个控制输入端和多个控制输出端，控制输入端和恒流源选择模块相连，控制输出端和目标芯片的引脚电气连接；ADC模块，其两输入端分别与所述恒流源正极、恒流源负极相连，用于获取目标芯片各引脚的电压信号并进行模数信号转换。通过设计芯片引脚检测装置替代人工检测，从而高效、准确地自动检测判断、存储，减少了人力投入，提高生产效率。