摘要
本发明公开了IR芯片以及光电耦合器,其中IR芯片,包括:Si衬底;设置于所述Si衬底上的掺杂层;与所述Si衬底层相接,背离所述掺杂层,且与所述掺杂层存在电极通道的P电极;背离所述Si衬底,与所述掺杂层存在电极通道的的N电极;以及SiO2钝化层;其中,所述掺杂层包括依次排布于所述Si衬底上的P型掺杂层、PN结、N型掺杂层;所述SiO2钝化层包覆于所述PN结的外壁。本发明技术方案提高了IR芯片的强度,避免了芯片在实际生产和封装过程中损坏,提高了IR芯片的可靠性。
技术关键词
SiO2钝化层
芯片
光电耦合器
PN结
电极
衬底层
阶梯型
通道
强度
信号
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