一种基于遗传算法的存储器芯片冗余电路修复方法

本发明公开了一种基于遗传算法的存储器芯片冗余电路修复方法，属于芯片测试技术领域，包括：配置存储器芯片适用的所有修复方案作为个体，随机生成初始种群；根据每个个体的修复方案规则对芯片进行修复，得到每个个体修复方案的解；根据备用电路使用率和修复时间效率计算对应的适应度，将适应度高的个体保留，作为下一代种群的父代；从父代种群中选择个体，进行交叉操作，产生新的子代个体；对子代个体进行变异操作，进行随机的修复方案调整；将父代和子代个体结合，形成新的种群；重复上述步骤，直至迭代次数和适应度均达到预设阈值，从最终的种群中选择适应度最高的个体作为最优解；本发明能够有效处理存储器芯片中的错误数据。