一种用于测试设备的自适应调整的控制系统

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一种用于测试设备的自适应调整的控制系统
申请号:CN202410777004
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118605129B
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种用于测试设备的自适应调整的控制系统,所述系统包括:波形控制模块,用于选择或生成不同波形来完成对参数的控制;PID控制模块,用于使系统能够根据实时的环境和参数变化进行自适应调整;传感器模块,用于实现对物理量的实时监测与数据融合;数据处理模块,用于对采集的数据和信号进行处理,确保数据与信号的准确性;安全监测模块,用于实时监测异常情况,并在必要时发出报警信号。本方案能够实现配置不同的复杂控制策略,满足不同的控制需求。
技术关键词
波形 配置页面 测试设备 正弦波 控制模块 控制系统 参数 数据处理模块 传感器模块 信号处理模块 模糊PID控制器 水锤效应 进化算法 短时傅里叶变换 系统对环境 频率 图像 监测模块
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