芯片文件的质量管理方法、装置、电子设备及存储介质

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芯片文件的质量管理方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202410779112
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118734791A
公开日期:2024-10-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片文件的质量管理方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:新建本地质量管理目录并从云端中拉取所有芯片设计代码,对本地质量管理目录内的芯片设计代码以及云端内的芯片设计代码进行一致性检查;一致性检查通过后,将本地质量管理目录中的芯片设计代码由当前版本变更至目标版本;运行质量检查流程脚本以对目标版本的芯片设计代码进行质量检查;将质量检查通过的芯片设计代码配置项目阶段标签后上传至云端。本发明通过质量检查流程脚本保证发布芯片设计代码的质量把控,提高了芯片开发效率,减少无效沟通,降低时间和人力成本。
技术关键词
芯片 目录 管理方法 云端 脚本 检查单元 计算机执行指令 管理装置 标签管理 项目 管理软件 阶段 电子设备 可读存储介质 版本更新 处理器 时序 集群 布线
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