基于图像处理和波长分析的光学胶性能检测方法及装置

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基于图像处理和波长分析的光学胶性能检测方法及装置
申请号:CN202410779338
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118501098B
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本申请涉及光学胶性能检测技术领域,公开了一种基于图像处理和波长分析的光学胶性能检测方法及装置。所述方法包括:对样品光学胶进行图像采集的图像预处理,得到目标光学胶图像;进行边缘检测和图像特征识别,得到图像特征数据;通过高斯过程回归模型进行光学胶折射率预测,得到第一折射率分布数据;进行波长扫描,得到光学特性数据并进行光学胶折射率计算,得到第二折射率分布数据;进行特征提取,得到第一折射率分布特征向量和第二折射率分布特征向量;将第一折射率分布特征向量和第二折射率分布特征向量输入基于注意力机制的多任务分类神经网络模型进行光学胶性能分析,得到光学胶性能指标数据,本申请提高了光学胶性能检测的准确率。
技术关键词
光学胶 图像特征数据 性能检测方法 多任务分类 图像处理 测试点 波长 性能指标数据 图像特征识别 注意力机制 神经网络模型 性能检测设备 边缘检测 高斯核函数 分类器 特征描述符 协方差矩阵 光谱仪
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