测试电路集成方法、装置、电子设备及计算机存储介质

本公开提供了一种测试电路集成方法、装置、电子设备及计算机存储介质，属于集成电路设计和测试技术领域，该方法包括：将芯片的源设计文件解析为预设数据结构的源文件；基于DFT测试方法，确定测试电路包括的多个测试模块；基于源文件，确定多个测试模块与芯片电路的各个功能模块的连接关系；根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件。该方法能够自动将测试电路插入芯片电路，得到用于仿真测试的文件。