中介层及其测试方法、半导体结构

本申请提供一种中介层及其测试方法、半导体结构。中介层包括测试区及功能区。中介层包括位于测试区及功能区的绝缘层和导电结构。绝缘层包括多个绝缘膜层；绝缘层的各开孔包括一个子开孔或两个以上子开孔；测试区及功能区分别设有开孔。导电结构包括多个导电部及多个再布线层；每一子开孔内设有一个导电部；任相邻两个绝缘膜层之间均设有再布线层；再布线层包括多个导线及多个导电块；至少一个开孔内的相邻两个导电部之间设有导电块，各导线分别与至少两个对应的开孔内的导电部接触；测试区及功能区分别设有至少一个导线及多个导电块；导电结构位于测试区的部分与位于功能区的部分绝缘；导电结构位于测试区的部分用于测试其是否存在短路及断路。