一种工业缺陷图像像素级标注生成方法和装置

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一种工业缺陷图像像素级标注生成方法和装置
申请号:CN202410796706
申请日期:2024-06-20
公开号:CN118823780B
公开日期:2025-12-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及计算机视觉技术领域,提供了一种工业缺陷图像像素级标注生成方法和装置。方法包括:提取缺陷图像的判别性特征,使用所述缺陷图像的判别性特征对缺陷图像进行低分辨率像素级标注;提取正常图像的判别性特征,使用所述正常图像的判别性特征对正常图像进行低分辨率像素级标注;对缺陷图像的判别性特征和VAE解码器输出的高分辨率特征进行融合,得到精细化特征,使用精细化特征对缺陷图像进行高分辨率像素级标注;根据缺陷图像和正常图像的低分辨率像素级标注和高分辨率像素级标注、缺陷图像掩码和正常图像掩码,生成目标函数,使用目标函数对标注生成模型进行优化。本发明能够实现与缺陷区域精准对齐的高分辨率像素级标注。
技术关键词
图像像素 生成方法 解码器 压缩特征 图像生成模型 分支 计算机可执行指令 文本编码器 工业 注意力 边界特征 随机噪声 计算机视觉技术 计算机存储介质 样本
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