一种高分子叠层电容器聚合物膜厚质量检测方法

本发明涉及材料的物理化学分析技术领域，具体涉及一种高分子叠层电容器聚合物膜厚质量检测方法，包括：获取历史电化学聚合过程中导电聚合物膜每个位置的光谱‑电参数沉积关系；根据所有位置光谱‑电参数沉积关系与历史电化学聚合过程后的所有位置的光谱数据的分布，获得历史电化学聚合过程中的沉积参数下每个位置的历史沉积指标；根据历史电化学聚合过程中沉积参数下每个位置的历史沉积指标与当前电化学聚合后的每个位置的光谱数据获得每个位置的最终沉积指标，根据最终沉积指标进行电容器导电聚合物膜厚质量检测。本发明避免导电聚合物膜上异常情况干扰，提高了质量检测的准确性。