回损测试电路及其控制方法、系统以及存储介质

本申请公开了一种回损测试电路及其控制方法、系统以及存储介质，本申请涉及硅光芯片测试技术领域，所述回损测试电路与硅光芯片连接，包括：外部光源模块，外部光源模块与硅光芯片的输出端连接，用于将预设光功率的外部光源传输至硅光芯片的输出端，使得硅光芯片的输出端将外部光源反射出去；控制模块，控制模块与硅光芯片的输出光功率检测单元连接，用于采集剩余光源的光功率对应的剩余电压值，在检测到剩余电压值小于预设光功率对应的预设回损值时，确认硅光芯片的回损测试通过并输出测试结果；输出模块，输出模块与控制模块连接，用于接收测试结果，输出测试结果对应的报警信息。本申请能够解决进行硅光芯片回损测试的成本高。