一种方便线路连接的集成电路测试方法及系统

本发明提供一种方便线路连接的集成电路测试方法及系统，涉及集成电路测试技术领域，包括：获取待测集成电路，设置测试电路板，测试点以及柔性互连阵列，进行对准连接，获取待测器件信息并解密，得到待测电路信息；生成初始测试信号序列，映射至量子态空间生成量子测试信号序列，进行信号输入，生成输出结果信号，进行对比，根据对比结果计算性能指标，进行参数调整，生成优化测试信号序列并反馈至控制器，得到最优性能指标；确定偏差程度，生成置信度评分并与置信度阈值比较，高于置信度阈值，则标记为合格，否则调整超参数，更新置信度阈值直至收敛，若收敛至不合格状态则进行推理，确定失效模式和改进方案，与器件测试信息打包上传至服务器。