一种128路模拟开关芯片的测试方法及测试装置

本发明公开一种128路模拟开关芯片的测试方法及测试装置，属于电路测试领域，包括测试PCB板、上位机、测试程序，所述测试PCB板包括母板、子板，所述母板包括电源模块、存储单元、FPGA芯片、继电器，所述子板包括测试单元、测试夹具和被测芯片。本发明通过基于FPGA的继电器驱动核心板设计，实现128路模拟开关ATE自动测试；将测试DUT板以及ATE集成，通过ATE对被测模拟开关电路进行上电、提供测试激励，通过ATE的编程功能实现模拟开关各项指标的自动化测试，实现了128路高压模拟开关测试所需所有向量的自动施加，且所有测试激励在本发明下均可由现有的ATE测试资源实现。用此方法代替常规的测试方法，解决了多遍测试成本高、操作复杂的问题。