一种AI芯片白盒测试方法、装置及存储介质

本发明涉及一种AI芯片白盒测试方法、装置及存储解释，该方法包括：在AI芯片中部署脉冲神经元模型，所述脉冲神经元模型用于获得最小可探测光功率下的神经网络单元脉冲动态阈值，采用烟花爆炸优化算法对测试数据进行优化，将优化后的测试数据作为程序输入，使得程序运行时经过的路径为测试前指定的一条期望路径。本发明的提高了代码漏洞发现的效率，降低了AI芯片测试的能耗。