曲面三维温度及光谱发射率场同时重建方法、设备及介质

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曲面三维温度及光谱发射率场同时重建方法、设备及介质
申请号:CN202410823939
申请日期:2024-06-25
公开号:CN118836991B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明一种曲面三维温度及光谱发射率场同时重建方法、设备及介质,其中重建方法包含以下步骤:1)基于目标曲面的光谱光场图像,逐波段生成一系列聚焦在不同深度的重聚焦图像以及各个波长下的全聚焦图像;2)基于全聚焦图像的亮度分布,从全聚焦图像中按目标轴向逐层找出特征点,记录特征点对应的径向位置和焦面深度;3)逐层拟合目标径向的轮廓曲线;4)依据轮廓曲线获取目标三维模型;5)基于各波段全聚焦图像,计算各个像素点的温度及发射率,与目标三维模型匹配,从而形成目标曲面的三维温度场以及光谱发射率场。本发明突破了传统温度重建方法中预设发射率所带来的精度限制,将光谱光场技术的应用领域拓展到了工程化三维目标的物性重建。
技术关键词
发射率 深度分布图 三维温度场 轮廓曲线 图像 特征点 三维模型 波长 温度重建方法 三角分解算法 曲面轮廓 像素点 元胞 光场技术 特征值 处理器 亮度 代表
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