内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法

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内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法
申请号:CN202410824738
申请日期:2024-06-25
公开号:CN118376909B
公开日期:2024-08-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法,通过老炼激励的生成在DUT内建实现,不需要老炼控制台的参与,DUT内部扫描链相关的触发器和组合逻辑实现最大程度的翻转,同时老炼激励覆盖DUT内部的内存组件,老炼范围充分且覆盖率高。老炼过程监测的PCB实现简单,解决了动态老炼数据收集和监测的难题,有效简化以往基于集成电路动态老炼系统的老练装置设计,老炼控制台不再需要使用FPGA实现,提供简单外部电源和时钟信号即可实现芯片的动态老炼。同时,高温试验箱窗口限制老炼工位数量的问题得到了彻底解决,有效降低了老炼测试复杂度。
技术关键词
动态老炼 集成电路芯片 内建自测试 子模块 测试指示器 扫描链 内存组件 高温试验箱 控制模块 存储器 控制器 电源接口 信号发生器 电源模块 老练装置 工位 控制台
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