基于BiDC-YOLO模型的印刷电路板缺陷识别方法和系统

本发明涉及目标检测技术领域，尤其是提供了一种基于BiDC‑YOLO模型的印刷电路板缺陷识别方法和系统。该方法包括构建双向特征金字塔和可形变卷积增强BiDC‑YOLO模型；将待识别的印刷电路板图像输入至BiDC‑YOLO模型，输出识别结果，以获取标识缺陷的印刷电路板图像，该方法通过构建BiDC‑YOLO模型提升了印刷电路板小目标缺陷检测的准确性和效率，以及提高了辨识精度。