一种数据校验方法、装置及相关设备

本公开提供了一种数据校验方法、装置及相关设备，应用于计算机技术领域，方法应用于系统级芯片，系统级芯片包括校验模块和第一存储器；系统级芯片连接第二存储器；方法包括：响应于第一指令，若校验模块采用第一模式，校验模块从第一存储器获取第一数据，从第二存储器获取第二数据；若校验模块采用第二模式，校验模块从第二存储器获取第一数据和第二数据；第一数据为校验第二数据所需的校验码；运用数据校验规则，基于第一数据对第二数据进行数据校验，得到数据校验结果。如此，支持两种校验方式，校验方式更灵活，且仅需外接一个存储器，减少成本；解决了系统级芯片数据校验效率低、成本高的问题。