一种基于改进KL算法的选择性三模冗余方法

一种基于改进KL算法的选择性三模冗余方法，通过对电路节点的软错误敏感度进行分析，通过拓扑准则和改进KL算法将节点分为SEU敏感和SEU不敏感两类，并只对SEU敏感的节点插入三模冗余结构，基于改进KL算法的选择性三模冗余方法可以兼顾抗SEU能力和冗余后硬件开销两方面的考量，相较于全三模冗余方法占用资源多的缺点，选择性三模冗余可以节省大量的额外开销，同时又能达到电路抗单粒子可靠性要求。