自投影增强和隐式场约束的点云补全方法、介质及设备

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自投影增强和隐式场约束的点云补全方法、介质及设备
申请号:CN202410854182
申请日期:2024-06-28
公开号:CN118736170A
公开日期:2024-10-01
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种自投影增强和隐式场约束的点云补全方法、介质及设备;其中,方法包括如下两个阶段:第一阶段,采用基于自投影增强的方式,生成粗粒度的补全点云;采用双向感知增强模块细化点云,得到最终精细的点云;以及第二阶段,采用基于隐式场约束的方式,生成细粒度点云。该方法采用自投影视图技术,通过一个双向感知细化模块来增强补全结果的完整性和细节表现,并通过引入隐式场约束有效去除生成点云中的噪点,能够准确估计出完整三维点云的位置坐标,从而实现精确的点云补全。
技术关键词
补全方法 深度图 多层感知器 矩阵 特征描述符 一维卷积神经网络 模态特征 执行存储器存储 点云特征提取 输出特征 模块 图像编码器 处理器 坐标 多模态 符号 注意力机制 关系
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