IGBT模块寿命预测系统及方法

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IGBT模块寿命预测系统及方法
申请号:CN202410857866
申请日期:2024-06-28
公开号:CN118731626B
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种IGBT模块寿命预测系统,它的温度采样模块用于根据额定工况下电驱动系统性能参数获取IGBT的稳定结温;损伤模型建立模块用于根据IGBT模块的稳定结温采用雨流计数法建立IGBT模块损伤模型,IGBT模块的稳定结温作为雨流计数法的中心载荷;寿命预测模块用于利用IGBT模块损伤模型计算IGBT模块累计损伤度,利用IGBT模块累计损伤度预测IGBT模块使用寿命。本发明能够在线预测IGBT寿命,提前识别失效风险,降低产品故障率。
技术关键词
IGBT模块 雨流计数法 结温 寿命预测系统 系统性能参数 温度采样模块 电驱动系统 IGBT模型 载荷 功率模块 寿命预测方法 产品故障率 工况 可读存储介质 曲线 计算机 定义 铭牌
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