芯片内负载的稳压结构、芯片及稳压结构的制作方法

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芯片内负载的稳压结构、芯片及稳压结构的制作方法
申请号:CN202410863786
申请日期:2024-06-29
公开号:CN120614868A
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种芯片内负载的稳压结构、芯片及稳压结构的制作方法,涉及半导体芯片设计的技术领域,其中,该芯片内负载的稳压结构,包括:基底层,包括冗余栅极、冗余有源区、基底,其中,所述冗余栅极与所述基底形成冗余MOS管,以提供冗余MOS管电容值;所述冗余有源区与所述基底形成PN结,以提供PN结电容值;其中,所述冗余MOS管、所述PN结与芯片的负载的电源网络并联连接。通过本申请实施例,解决了相关技术中的芯片的负载两端的电压不稳定的问题。
技术关键词
冗余 稳压结构 MOS管 PN结电容 栅极 有源区 电源 基底层 网络分配 半导体芯片 版图 布线 布局 电压 通孔
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