金手指缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质

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金手指缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质
申请号:CN202410865189
申请日期:2024-07-01
公开号:CN118397011B
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本公开涉及一种金手指缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质。所述方法包括:获取待检测图像,提取待检测图像中金手指区域的金手指灰度图像;根据基准图形区域、每个金手指的尺寸,确定每个金手指的第一边界端点和第二边界端点;在每个金手指的第一边界端点和第二边界端点之间划分预设数量的轮廓,基于预设数量的轮廓的灰度值,确定每个金手指的中位点,基于每个金手指的中位点,确定金手指区域的基准值线;利用区域生长算法确定金手指灰度图像中的亮点区域;基于亮点轮廓点到基准值线的距离和距离阈值,对待检测图像进行缺陷检测,得到缺陷检测结果。采用本方法能够提高检测精度,准确的对金手指进行缺陷检测。
技术关键词
金手指区域 亮点 区域生长算法 轮廓 缺陷检测方法 端点 位点 计算机设备 像素点 图像增强方法 缺陷检测装置 基准 图像处理模块 邻域 计算机程序产品 处理器 分割算法
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