一种自动分离杂质的大米研磨装置

AITNT
正文
推荐专利
一种自动分离杂质的大米研磨装置
申请号:CN202410866060
申请日期:2024-07-01
公开号:CN118874867A
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本发明属于大米加工相关技术领域,公开了一种自动分离杂质的大米研磨装置,包括:图像获取模块,用于实时获取大米下落时的图像信息,所述图像获取模块为摄像头;杂质类型识别模块,根据实时获取的图像信息,并输入至预构建的杂质类型识别模型中,输出杂质类型;喷射力预测模块和控制模块。本发明通过将实时获取的图像信息输入至杂质类型识别模型,可以精准的识别杂质的具体类型,可以根据不同杂质种类,以及杂质的体积和质量综合评估,预测出合适的喷射力,确保杂质被有效地喷射出去,从而提高了杂质的分离效率,避免因喷射力过大,造成物料的过度损伤或者产生不必要的浪费,提高了杂质分离的准确性和可靠性。
技术关键词
大米研磨装置 图像获取模块 预测误差 训练机器学习模型 喷头 标记 标签 识别杂质 像素点 识别模块 研磨单元 图片 控制模块 坐标系 石子 像素块
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种多传感器融合的精准喷雾控制系统及方法
激光测距仪器 喷雾控制系统 多传感器融合 喷施设备 叶片
2
一种病灶距离测量方法和系统
三维模型 内窥镜 测量方法 深度估计算法 单目深度估计
3
基于风电时空自适应聚类与相似性的齿轮箱故障预警方法
风电机组运行状态 齿轮箱故障 低速轴承 预警方法 风电机组齿轮箱
4
模型训练、图像检测方法、装置、设备、介质及产品
特征提取器 图像检测方法 特征金字塔 图像获取模块 数据
5
一种基于神经网络与维纳过程的电机剩余寿命预测方法
维纳模型 剩余寿命预测方法 遗传神经网络模型 BP神经网络 剩余寿命预测算法
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号