一种电子元器件生产数据智能分析方法及系统

本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种电子元器件生产数据智能分析方法及系统，包括：获取参数序列，根据参数段序列中不同参数值的斜率和参数值距离极值的时间间隔得到初始波动程度，根据初始波动程度得到参数段序列内参数值的最终波动程度，进而得到参数序列的距离影响权重，获取不同参数序列之间的相关性，进而得到每个参数序列受其他参数序列的相关性影响，根据距离影响权重和相关性影响得到参数序列的距离调整系数，进而得到样本数据之间的距离，最终将样本数据进行聚类并完成异常检测。本发明通过分析不同参数序列之间的相关性，使得最终聚类结果更加贴合实际情况，完成异常参考值的检测。