一种表面活化键合方法及设备

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一种表面活化键合方法及设备
申请号:CN202410868326
申请日期:2024-07-01
公开号:CN118762985A
公开日期:2024-10-11
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种表面活化键合方法及设备,涉及芯片制造技术领域;该表面活化键合方法包括:将第一样品和第二样品分别进行表面活化处理,得到第一待键合样品和第二待键合样品;将所述第一待键合样品和第二待键合样品对准贴合,得到待键合样品对;在预设真空度下,对待键合样品对施加预设压力,然后在所述第一待键合样品和第二待键合样品之间同时施加偏置电压和脉冲电压进行室温键合,得到键合样品对。对于表面粗糙度较高的样品,采用本发明提供的表面活化键合方法,可以在较低的真空条件下制得的键合强度较高的产品。
技术关键词
键合方法 样品台 键合设备 辅助电源 脉冲 电压 真空度 静电卡盘 多晶金刚石 电极 真空腔 氮化镓 正弦波 凹槽 粗糙度 压力 波形 芯片 频率
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