芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质

本发明涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质，通过待执行的测试代码生成hex文件，并根据目标测试需求以及hex文件配置目标测试文件，简化了传统测试过程中繁琐的配置步骤，且通过配置目标测试文件，可以方便地适应不同测试需求和芯片类型。将目标测试文件输入到编译软件中，可以快速生成目标测试向量，实现了不通过仿真也可以生成测试向量的效果，大大缩短了测试准备和生成测试向量的时间，提高了整体测试效率。同时，配置目标测试文件的过程只比较关心的输出值，避免了不关心的比较值对测试结果的干扰，从而降低了测试失败的风险，提高了测试的准确性。