图像中的弱缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质

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图像中的弱缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202410878845
申请日期:2024-07-02
公开号:CN118761982A
公开日期:2024-10-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种图像中的弱缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质。所述图像中的弱缺陷的检测方法,包括:对接收到的源图像进行中值滤波处理,得到源图像的滤波图像;对所述滤波图像使用局部灰度特征算法进行图像处理,得到所述滤波图像中的背景图像;通过至少两个阈值的分割算法、异常筛选算法和候选弱缺陷融合算法对所述背景图像进行分析,得到候选图像中的弱缺陷;对所述候选图像中的弱缺陷进行图像融合,得到图像中的弱缺陷。本申请的技术方案保证了图像中的弱缺陷的检出率,同时降低了过度检测的可能性,提高了图像中的弱缺陷的边缘分割的准确性和完整性,进而提高了图像中的弱缺陷的尺寸计算的一致性和准确性。
技术关键词
筛选算法 灰度特征 分割算法 融合算法 图像处理 二值化算法 存储程序指令 通信接口 掩膜 滤波模块 电子设备 存储器 计算机 分析模块 可读存储介质 上采样
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