一种获取芯片调试数据的处理分析系统及方法

本申请提供了一种获取芯片调试数据的处理分析系统及方法，其技术方案要点包括获取模块：获取目标调试芯片的芯片数据；数据处理模块：得到目标调试芯片的实际调试数据；第一分析模块：得到实际调试数据的数据准确度、数据完整度、数据重复度以及数据稳定系数；第二分析模块：得到实际调试数据中各项调试数据对应的调试数据均值、调试数据标准值、以及均值异常度和数据离散度；依据均值异常度和数据离散度得到目标调试芯片的性能稳定系数；判断模块：判断目标调试芯片的芯片稳定程度。本申请具有对芯片调试数据的数据稳定性以及目标调试芯片的性能稳定性进行全面准确分析，提高芯片稳定程度判断结果准确性的效果。