一种存储芯片的测试方法及测试装置

本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：对主机上电并开机，并向存储芯片发送初始化指令；存储芯片接收到初始化指令后，第一计时器开始计时，并对存储芯片进行初始化；存储芯片完成初始化后；当第一计时器的时间到达预设时间，向主机发送反馈信息；若主机接收到反馈信息的时间未超过上电时间，则主机正常开机，之后对主机下电；存储芯片依据主机的下电次数更新预设时间；重新对主机上电，直至主机接收到反馈信息的时间超过上电时间，并获取上个循环中的预设时间作为存储芯片的最大上电时间。通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试装置，可自动获取存储芯片的最大上电时间。