一种芯片测试程序处理方法及测试系统

本发明公开了一种芯片测试程序处理方法及测试系统。该方法应用于测试系统，该方法包括：通过编辑器，编辑并传输芯片测试程序至编译器；通过编译器，基于包括各测试设备的功能信息的第一配置文件解析芯片测试程序得到通用测试程序数据，通用测试程序数据指示各测试设备中的多个目标测试设备在功能方面适配芯片测试程序；通过编译器，基于各目标测试设备的硬件抽象层，在验证各目标测试设备在硬件方面适配芯片测试程序的情况下，将通用测试程序数据传输至转换器；通过转换器，基于包括各测试设备的硬件信息的第二配置文件，将通用测试程序数据转换为适配于各目标测试设备的目标测试程序。该方法可以提高芯片测试程序的通用性和可移植性。