一种电子芯片用性能检测设备及使用方法

本发明公开了一种电子芯片用性能检测设备及使用方法，涉及芯片检测技术领域，包括底座、固定架、升降板和探针调整模块，所述底座外壁顶部对称固定连接有固定架，所述固定架侧边安装有升降板，所述升降板上安装有探针调整模块，所述探针调整模块用于自动检测不同尺寸电子芯片的性能；探针调整模块包括：控制器、安装卡、电路板、电磁铁、探针和复位弹簧。本发明通过安装有探针调整模块，实现电子芯片性能检测时探针的自动调整功能，提高了整体检测流程的速度和效率，提高了检测设备的通用性和适用范围。