模拟内存计算系统的自适应量化方法、自适应量化系统和非暂时性机器可读介质

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模拟内存计算系统的自适应量化方法、自适应量化系统和非暂时性机器可读介质
申请号:CN202410883318
申请日期:2024-07-03
公开号:CN119806793A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本文中描述了一个或多个系统、方法和/或机器可读介质,用于基于磁存储装置自适应量化旨在部署在内存计算系统上的参数。该方法包括基于电导偏移感测过程、感测电导偏移值、电导偏移查找表和要量化的参数来量化参数。该参数可以通过使用记录在查找表中的值来量化,诸如四舍五入到最接近的值。可以通过电导偏移感测过程来产生查找表,电导偏移感测过程能够记录磁存储装置的感测电导和相关的装置状态。电导偏移感测过程可以将磁存储装置(MMD)设定为不同的状态,并且可以使用合适的装置来测量由状态设定引起的MMD的电导偏移。
技术关键词
存储单元 机器可读介质 校准 磁存储装置 量化系统 存储计算机可执行 数据 查找表 误差 神经网络参数 模拟噪声 内存 阵列 存储器 处理器 芯片 指令
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