一种量化测试芯片工作噪声的方法、装置和设备

本发明公开了一种量化测试芯片工作噪声的方法、装置和设备，包括对被测芯片进行模拟应用操作，作为测试矢量，利用持续的测试矢量使得所述被测芯片工作并产生耗电，所述被测芯片工作过程中根据不同的实时状态产生耗电量波动；利用测试仪对被测芯片进行持续的耗电量采集，得到所述被测芯片的工作电流的时域信号；根据所述工作电流的时域信号得到所述被测芯片的工作噪声指标。本发明通过数学计算来量化被测芯片的工作噪声指标，通过工作噪声指标来对被测芯片的耗电量波动进行数值化表达，以便后续将工作噪声指标作为测试指标对被测芯片的电学性能进行评估。