内存测试方法、系统、电子设备及存储介质

本发明提供一种内存测试方法、系统、电子设备及存储介质，应用于中央处理器，该中央处理器包括第一向量寄存器、第二向量寄存器和通用寄存器，该方法包括：通过第一向量寄存器运行内存测试操作指令，对内存进行读写访问；将通用寄存器中的数据写入第二向量寄存器中，并将第二向量寄存器的全部数据写入内存中；将内存中的数据读取至第一向量寄存器中，第一向量寄存器与所述二向量寄存器进行异或比较，判断内存是否正常。本发明将多个向量寄存器组合，根据内存测试算法的原理通过底层汇编进行加速，可以有效提高内存测试算法的测试效率，缩短测试时间。