一种错误注入的方法、电子设备及存储介质

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一种错误注入的方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202410900315
申请日期:2024-07-05
公开号:CN118886392B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片验证技术领域,特别是涉及一种错误注入的方法、电子设备及存储介质,其通过对每个目标模型进行初始化,包括:目标模型获取所述错误注入模型的模型实例;目标模型通过模型实例向所述错误注入模型注册目标模型自身的所有硬件错误类型;所述激励端将注册的所有硬件错误类型中的部分或者全部硬件错误类型注入所述错误注入模型中并进行保存;当对目标模型进行仿真或者测试的过程中,运行到错误发生点时,读取所述错误注入模型中保存的硬件错误类型,当读取成功时确定发生了对应的硬件错误;否则,未发生对应的硬件错误。达到了模拟真实错误,确保目标模型功能的完整性的目的。
技术关键词
芯片验证技术 电子设备 可读存储介质 处理器 模块 接口 程序 频率 指令 计算机
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