一种用于晶圆硬度测试的EFEM设备

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一种用于晶圆硬度测试的EFEM设备
申请号:CN202410901010
申请日期:2024-07-05
公开号:CN118706654A
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本申请涉及芯片测试设备领域,尤其涉及一种用于晶圆硬度测试的EFEM设备,其包括晶圆传片机和晶圆硬度测试机,所述晶圆传片机和晶圆硬度测试机并列设置,所述晶圆传片机和晶圆硬度测试机上开设有相互连通的窗口通道;所述晶圆传片机包括用于装载晶圆盒的loadport机构以及用于搬运晶圆的机械手机构,所述晶圆硬度测试机包括用于对晶圆进行硬度测试的硬度测试仪、移动平台和安装在移动平台上用于固定晶圆的承载平台,所述移动平台能够带动承载平台在水平面内运动。本申请具有提高晶圆测试效率的效果。
技术关键词
硬度测试机 扭力环 吸附平台 转换件 移动平台 承载平台 气浮平台 硬度测试仪 转换组件 机械手机构 芯片测试设备 控制件 晶圆盒 吸附装置 插杆 插孔 机台 通道 运动
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