芯片辐射分析系统和方法

本申请涉及辐射监测技术领域，特别是涉及一种芯片辐射分析系统和方法。系统包括：对影响待检测芯片辐射测试结果的干扰源进行干扰屏蔽的测试板、测量空间、前置放大器和芯片辐射测试设备；测试板，用于承载待检测芯片，并为待检测芯片进行电能供应；其中，测试板上设置有活动夹板，活动夹板可实现针对多种尺寸的待检测芯片的固定操作；测量空间，用于放置测试板，为待检测芯片提供均匀分配的电场和磁场；前置放大器，用于接收待检测芯片输出的待检测信号，并对待检测信号进行放大处理，得到目标信号；芯片辐射测试设备，用于对目标信号进行辐射测试，得到辐射强度；本申请保证了针对待检测芯片辐射测试的准确性。