一种基于多普勒频移测量的电离层密度分布探测方法和装置

本发明公开了一种基于多普勒频移测量的电离层密度分布探测方法，包括如下步骤：步骤1，接收电离层反射的信号；步骤2，放大和数字化电离层反射的信号；步骤3，计算电离层反射信号的多普勒频移；步骤4，计算电离层密度分布。本发明所公开的方法和装置，实现了对电离层密度分布的快速、准确测量。与传统的探空仪相比，该方法和装置成本低，效率高，测量结果的精度也得到了改善，可广泛应用于天气预报、电信、航空、导航等众多领域。