一种连续采集、分析随机数芯片质量的系统

本发明涉及信息安全和数据采集技术领域，具体是一种连续采集、分析随机数芯片质量的系统。系统包括被测芯片和测试装置，被测芯片位于高低温箱内，测试装置位于高低温箱外，测试装置与被测芯片通过带屏蔽排线相连，设有供电源为被测芯片提供不同大小的测试电压；测试装置包括采集单元、控制单元、分析单元、存储单元和自测单元，存储单元包括DDR和SD卡，采集单元包括采集模块、分段式FIFO和寄存器，多个采集模块均与分段式FIFO相连，分段式FIFO与寄存器均与控制单元相连，控制单元采用双核非对称架构。本发明可靠、连续地采集、存储并分析多颗随机数芯片产生的随机数据，还能动态调整采样参数以应对不同测试需求。